雷达学报

作者：李兆弘, 徐华平, 段书航, 李婧雯

单位：1.北京航空航天大学电子信息工程学院 北京 100191；2.北京信息科学技术研究院 北京 100094；

关键词：合成孔径雷达, 有源欺骗干扰, 干扰检测, 基线设计, 检测性能分析

基金：国家重点研发计划(2002YFB3902302)，上海航天科技创新基金(SAST2022-048)

对基于干涉相位的合成孔径雷达(SAR)有源欺骗干扰检测进行了性能分析。首先基于真实场景和虚假目标的斜距向局部条纹频率概率分布，推导了欺骗干扰检测概率的显式表达式。分别分析了垂直基线长度、干信比和局部条纹频率估计窗口尺寸3个因素对欺骗干扰检测概率(TPR)的影响。进而分析了在给定虚警概率(FPR)时，SAR系统能够达到检测概率要求时所需的垂直基线长度，为SAR系统的基线设计提供了理论依据。在现有低轨SAR参数条件下，要得到更大的干扰检测概率，所需垂直基线长度也越大，因此，在设计SAR系统的基线时，既要保证垂直基线足够大可满足检测概率的要求，还需要兼顾真实场景的相干系数，垂直基线不能太大，满足场景可进行干涉的条件。最后，对理论分析的结论进行了仿真验证。理论分析与实验结果表明：在虚警概率固定的情况下，一定范围内垂直基线长度越大/干信比越大/局部条纹频率估计窗口越大，则干扰检测概率越大。

来源：2024年第6期

《雷达学报》期刊编辑部

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